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SpotOn PCI光束位置和功率测量系统
SpotOn PCI光束位置和功率测量系统
一个袖珍的功能强大的实验室或工业测量的光束位置测量系统。
整个系统包括PCI卡,一个用于连接一或两个PSD 的多重箱，Windows操作软件。PSD类型或是一个侧效应Si探测器,或是一个4象限Si探测器.两个PSD 探测器可以同时使用.
OS 支持:
Windows 95/98/NT 4.0/Me/2000/xp。
型号分类：
SPOTPCI: 基本配置系统包括一个PCI卡，多重箱，windows软件，便携箱，使用说明书。
L: 侧向效应pnp 探测器头(9mmX9mm, 在硅树脂上没有玻璃) 和校正碟。
N: 侧向效应pnp 探测器头 (10mmX10mm) 有密封玻璃。
Q: 4象限pnp探测器头( 10mmX10mm, 30µm 间隙, 在硅树脂上没有玻璃)。
U: 4象限pnp探测器头(10mmX10mm,10祄 间隙, 有密封玻璃)。
ER: 整个系统具有双侧向效应 20x20mm 有光学扩展器。
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