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首页 > 供应产品 > 探针式轮廓仪/台阶仪/膜厚仪 Dektak XT
探针式轮廓仪/台阶仪/膜厚仪 Dektak XT
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产品: 浏览次数:955探针式轮廓仪/台阶仪/膜厚仪 Dektak XT 
品牌: Bruker
型号: Dektak XT
规格:
单价: 面议
最小起订量:
供货总量:
发货期限: 自买家付款之日起 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2014-08-04 16:44
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详细信息
探针式轮廓仪(台阶仪/膜厚仪) Dektak XT
布鲁克 Dektak XT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项创新性的设计,可以提供无与伦比的重现性,重现性低于5Å。台阶仪这项性能的提高达到了过去40年Dektak技术创新的顶峰,更加巩固了其行业领先地位。通过整合其行业领先产品,Dektak XT实现了最高性能。操作简易,从研发到质量控制都有更好的过程控制。整合了技术突破到第十代Dektak XT台阶仪,能够在微电子,半导体,超高亮度发光二极管(LED)、医学、材料科学等行业实现纳米级表面形貌测量。

Dektak XT 技术参数:
1. 台阶高度重复性5Å
2. 单拱(Single-arch)设计大大提高了扫描稳定性
3. 前置敏化器件,降低了噪音对测量的干扰
4. 新的硬件配置使数据采集能力提高了40%
5. 64-bit,Vision64同步数据处理软件,使数据分析速度提高了十倍。
6. 功能卓越,操作简易
7. 直观的Vision64用户界面操作流程简便易行
8. 针尖自动校准系统让用户更换针尖不再是难事
9. 台阶仪(表面轮廓仪)领域无可撼动的世界领先地位
10. 单传感器设计提供了单一平面上低作用力和宽扫描范围


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