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北京精微高博科学技术有限公司

比表面积测试

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首页 > 供应产品 > JW-K比表面积及孔隙率测试仪
JW-K比表面积及孔隙率测试仪
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产品: 浏览次数:31129JW-K比表面积及孔隙率测试仪 
单价: 面议
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发货期限: 自买家付款之日起 天内发货
有效期至: 2011-09-01 [已过期]
最后更新: 2006-06-21 10:42
详细信息
JW-K型氮吸附比表面积及孔径分布分析仪 许多超细粉体材料的表面是不光滑的,甚至是多孔的,而且其孔的大小、形状、数量与它的表面特性有密切关系,因此,除了测定比表面外,测定粉体材料表面微孔的孔径分布亦具有重要意义。 国际理论与应用化学协会曾把这些微孔按尺寸大小分为三类:小微孔,孔径≤2nm;中微孔,孔径2-50nm;大微孔,孔径≥50nm;其中中微孔具有最普遍的意义,用氮吸附方法测定孔径分布正好能满足这一孔径范围。 氮吸附法测定比表面及孔径分布都是利用氮的等温吸附特性:在液氮温度下,氮分子在材料表面的物理吸附量取决于氮气的相对压力P/P0,其中P为氮气分压,P0为液氮温度时氮的饱和蒸气压,当P/P0在0.05~0.35范围时,吸附量与P/P0符合BET方程,以此为基础,成为比表面测定的依据;当P/P0≥0.4时,由于产生了毛细凝聚现象,吸附量与表面微孔的尺寸相关,以此为基础,则成为测定孔径分布的依据。 一、技术参数 测量原理: 动态常压连续氮吸附法(国内首创) 气体: 高纯氮(99.99%)、高纯氦(99.99%) 气体流量: ≤100mL/min 流量控制: 稳压稳流系统,高精度流量传感器,数字显示,显示精度0.1% 测量压力: 常压 氮气相对压力:调节范围 0.05-0.98 主机功能: (1)吸(脱)附等温曲线测定 (2)孔径分布测定 (3)BET比表面测定,并可测定吸附常数C 值 (4)比表面快速测定(直接对比法) 测定范围: (1)孔径:2nm~200nm (2) 比表面:0.1~3500