JW-K比表面积及孔隙率测试仪
站内搜索
|
JW-K比表面积及孔隙率测试仪
详细信息 JW-K型氮吸附比表面积及孔径分布分析仪
许多超细粉体材料的表面是不光滑的,甚至是多孔的,而且其孔的大小、形状、数量与它的表面特性有密切关系,因此,除了测定比表面外,测定粉体材料表面微孔的孔径分布亦具有重要意义。
国际理论与应用化学协会曾把这些微孔按尺寸大小分为三类:小微孔,孔径≤2nm;中微孔,孔径2-50nm;大微孔,孔径≥50nm;其中中微孔具有最普遍的意义,用氮吸附方法测定孔径分布正好能满足这一孔径范围。
氮吸附法测定比表面及孔径分布都是利用氮的等温吸附特性:在液氮温度下,氮分子在材料表面的物理吸附量取决于氮气的相对压力P/P0,其中P为氮气分压,P0为液氮温度时氮的饱和蒸气压,当P/P0在0.05~0.35范围时,吸附量与P/P0符合BET方程,以此为基础,成为比表面测定的依据;当P/P0≥0.4时,由于产生了毛细凝聚现象,吸附量与表面微孔的尺寸相关,以此为基础,则成为测定孔径分布的依据。
一、技术参数
测量原理: 动态常压连续氮吸附法(国内首创)
气体: 高纯氮(99.99%)、高纯氦(99.99%)
气体流量: ≤100mL/min
流量控制: 稳压稳流系统,高精度流量传感器,数字显示,显示精度0.1%
测量压力: 常压
氮气相对压力:调节范围 0.05-0.98
主机功能: (1)吸(脱)附等温曲线测定
(2)孔径分布测定
(3)BET比表面测定,并可测定吸附常数C 值
(4)比表面快速测定(直接对比法)
测定范围: (1)孔径:2nm~200nm (2) 比表面:0.1~3500
|