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北京莱伯泰科仪器有限公司

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首页 > 供应产品 > Aridus II膜去溶雾化系统
Aridus II膜去溶雾化系统
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产品: 浏览次数:24272Aridus II膜去溶雾化系统 
单价: 面议
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有效期至: 2011-08-15 [已过期]
最后更新: 2007-06-21 16:03
详细信息
Aridus II膜去溶雾化系统是为各种ICP-MS专门研制的、专业进样系统附件,具有如下特性: 提高ICP-MS的灵敏度10倍以上 显著降低氧化物和氢化物水平 使ICP-MS可以直接分析有机溶剂样品(如甲醇、乙醇等) 大大改善信号的稳定性 Aridus II膜去溶雾化系统采用的低流量、Aspire微量雾化器,只需1mL的样品就能分析所有的元素。同时Aridus II进样系统全部采用PFA惰性材料,可应用于含HF酸的样品。独特的废液反抽技术进一步提高了稳定性。 Aridus II的工作原理: 样品经雾化器雾化成气溶胶后进入120℃的雾化室,样品气溶胶保持在蒸汽状态。从雾化室出来的样品气溶胶进入加热的“隔膜去溶”装置,利用“膜渗透”技术,分离样品气溶胶中的溶剂,利用一股反向的氩“穿透气”带走从膜渗透出来的溶剂蒸汽。从而使进入ICP的样品气几乎不存在溶剂部分,大大提高了分析的灵敏度、减少溶剂所带来的氧化物、氢化物干扰和溶剂对ICP的影响。 优点: 显著减小ICP-MS的干扰: Aridus II膜去溶雾化系统能有效去除样品溶剂蒸汽,显著地减少诸如来自水中的氧化物、氢化物的干扰,右图比较了标准气动雾化器与Aridus系统的CeO/Ce 比率,该CeO/Ce比率从3% 减少为0.03%。其他水基的干扰ArH +(39)、CO2+(44)、ArO+(56)有明显的减少,从而使Li、Na、Mg、K、Ca、Fe的检出限得到明显改善。 配备Aridus II的ICP-MS检出限:(在非冷焰的条件下,ELAN6000型ICP-MS) Element m/z Detection Limit (ng/L) Element m/z Detection Limit (ng/L) Li 7 0.4 K 39 8 Na 23 15 Ca 44 300 Mg 24 6 Fe 56 10 卓越的信号稳定性: Aridus II的7小时信号稳定性:RSD<1%(在100%的甲醇溶液中加1mg/L的标准) http://www.labtechgroup.com/chinese/product/fittings/icpms/04.htm