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深圳市林上科技有限公司

公司专注于光学仪器仪表行业,研发的主要系列产品有:光泽度仪,太阳膜测试仪,光...

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首页 > 供应产品 > 涡流测厚仪LS221的仪器介绍
涡流测厚仪LS221的仪器介绍
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产品: 浏览次数:442涡流测厚仪LS221的仪器介绍 
品牌: 林上
探头类型: 外置连线式
测量范围: 0.0-2000μm
分辨率: 0.1μm:(0μm-99.9μm)
单价: 1118.00元/台
最小起订量: 1 台
供货总量: 1000 台
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2020-08-14 10:07
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详细信息

涡流测厚仪https://www.linshangtech.cn/tech/tech554.html)是利用磁感应和涡流原理对金属工件上的镀层或电镀层厚度进行无损测量的仪器。根据磁感应原理,涂层或镀层的基体材料是铁、钢等导磁率好的金属,其表面的涂层或镀层是非磁性材料。工件和探头的涂层厚度可以通过测量探头的磁感应强度来计算。涡流的原理是根据金属基体的涡流效应改变振荡频率。频率变化与基底和探针之间的非金属厚度有关,并计算出非金属涂层的厚度。林上LS221涡流测厚仪参数:

测量原理    Fe:霍尔效应/NFe:电涡流效应

探头类型    外置连线式

测量范围    0.0-2000μm

分辨率  0.1μm(0μm-99.9μm)

m(100μm-999μm)

0.01mm:(1.00mm-2.00mm)

测量精度    ≤±(3%读数+2μm)

单位    μm / mil

测量间隔    0.5s

测量区域    Ø = 25mm

曲率半径    凸面:5mm 凹面:25mm

基体厚度    Fe0.2mm/NFe0.05mm

显示    128×48点阵LCD

供电方式    2 1.5V AAA碱性电池

工作温度范围    0℃ ~ 50

存储温度范围    -20℃~60

主机尺寸    101*62*28 mm

探头尺寸    71*26*22 mm

重量(含电池)    114g

对于测量仪器,校准是一个控制和记录的过程,仪器在规定条件下的测量精度可以通过测量溯源校准标准来验证。涡流测厚仪在长期使用过程中,储存环境过于潮湿,或仪器与探头发生强烈碰撞,探头磨损,可能导致仪器测量不准确。


很多用户不知道涡流测厚仪需要校准,所以他们直接拿起涡流测厚仪开始测量产品。经过反复测试,他们发现数字差异并不太大,他们认为这是正确的测量读数。然而,众所周知,仪器的测量标准并不准确,那么我们如何测量准确的读数呢?有些客户知道需要校准,但对涡流测厚仪的校准方法知之甚少,没有进行准确的校准,所以测量的数值结果仍然存在偏差。

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