TX-HW型高频红外碳硫分析仪

简 介

TX-HW型高频红外碳硫分析仪适应金属材料中高碳、低硫和低碳、高硫含量的检测。采用双CPU系统，上、下位机模块化设计；选用高速24位ADS124采样芯片，通信接口为USB2.0；红外检测系统与高频炉光纤连接；分析池设置高碳、高硫池和低碳、低硫池；卡扣式炉头自动清除粉尘，高压排灰系统其特点是可靠性更好、抗干扰能力更强。本产品采用高频燃烧炉配套使用，能快速、准确地测定钢铁金属材料和非金属材料中碳、硫元素含量，特别适合硅铁中高碳低硫的检测；该设备是集光、机、电、计算机、分析技术等于一体的高新技术产品；适用检测的材料品种多，测量范围宽，分析精度、准确度高，因此是企业的最佳选择。

主要技术性能

1；产品质量标准；

分析精度符合：

碳GB/T223.69—1997标准

硫GB/T223.68—1997标准

2； 测量范围：

碳：（C）0.0001%—12.8%  (可扩至99.999%)

硫：（S）0.0001%—0.3500%(可扩至99.999%)

3； 分析时间： 25—60秒可调，一般在35秒左右。

4； 配套

电子天平： 称量范围：0—100g 读数精度：0.0001g

化验室环境： 室内温度：10-30℃ 相对湿度：小于75%

电源电压：220（V） ±5%  50Hz