EDX1000P X荧光光谱仪

技 术 指 标: 分 析 范 围: 1PPM-99.99% 同 时 分 析: 几十种元素同时分析 测镀层厚度精确至: 0.01微米 测 量 对 象: 固体、粉末、液体 测 量 时 间: 60-300 秒 测 量 精 度 : 0.05% 分 析 元 素: Na-U 工 作 温 度: 15-26℃ 相 对 湿 度: ≤70% 重 量 : 30KG 电 源: AC 110V/220V 功 耗: 100瓦 配 置： 单样品腔 真空泵（可选） 压片机（可选） 硅针半导体探测器（美国产） 放大电路（美国产） 高低压电源（美国产） X光管（美国产） 仪器特点： 1、携带方便 2、精度高 3、现场分析 可以在现场对任意形状的 样品进行元素成分的分析