激光粒度仪analysette 22(Micro Tech,Nano Tech)

设计特点 “反傅立叶变换”在ISO 13320-1之中称作为“反傅立叶变换”它对颗粒尺寸分布测量的优势被第一次认识到，并且被利用且作为Fritsch公司的专利。样品被安放在聚焦光束中间。测量单元和探测单元之间的距离等于会聚透镜的焦距在通常的应用之中。如果改变测量范围与传统的设计一样获得相同的散射图像，毫无结构上的缺陷。 只需简单地移动一个变焦透镜可以简单地改变测量范围。 使用者具有对傅立叶元件的局部频率的完全控制。 分辨率 超级矩阵元达到520个测量通道 纳米范围的测量 使用了向前的散射和向后的散射 纳米范围的测量 向前的散射 探测单元是非常小的以便于大颗粒的散射光可以以高分辨率被探测到。使用了一个棱镜形状的宽角表面，通过它散射光可以以一个大角度的通过。 向后的散射 使用了一个反向激光束，通过同样的探测器中的微米小孔在测量池中产生光散射在60°--180°范围内反向传播而被探测到。 模型识别软件 衍射图形中的信息不仅包括颗粒尺寸的判断，还包括颗粒的形状。传感器元件的巧妙安放以及“反向反演神经网络”的应用，再与一个恰当的选择性的元件连用，远距离的活跃检测器前的区域，即可实现颗粒形状的识别。具有选择性的软件可测定出先前测量的分布在一个较宽的范围内的d50颗粒的长度比率。