返回主站| 会员中心 | 保存桌面| 手机浏览
普通会员

北京精微高博科技开发中心

新闻中心
  • 暂无新闻
产品分类
  • 暂无分类
联系方式
  • 联系人:夏迎春
  • 电话:010-63326034
  • 邮件:xwr07@sohu.com
  • 传真:010-63326024
站内搜索
 
荣誉资质
  • 暂未上传
友情链接
  • 暂无链接
首页 > 欢迎光临
推荐产品
公司介绍
北京精微高博科技开发中心自行研制成功的JW―04型全自动超细粉体材料比表面积测试仪,该项目填补了我国同类产品的空白。
比表面积是指每克物质的表面积,是用于评价粉体材料的活性、吸附、催化等多种性能的重要物理属性。
随着超细粉体材料尤其是纳米材料的迅猛发展,测定比表面积对掌握粉体材料的性能具有极为重要的意义。
适用于碳黑、白炭黑及各种硅基氧化物、氧化锌、氧化钙、氧化铝、活性炭、碳酸钙、碳纤维、氢氧化镍石墨等各种粉体材料的应用、研究、检测、生产。
涵概石化、橡胶、有色金属陶瓷、催化等相关行业及科研院所和粉体及纳米材料生产厂。
由于技术先进、制造精细,并且不断革新,本机与国内外同类仪器相比其有明显的特色:
1.测量精确度高、重细性好,测量精度≤±3%;
2.测量范围广,可测定比表面积为0.1~3500/g;
3.测定速度快,每次测定一个标准样品和三个被测样品,总计需时仅半小时;
4.数据采集软件系统先进,灵敏度高,直接打印出测试曲线和结果;
5.操作系统设计巧妙,结构简单,样品及液氮容器系统封闭在主机中,运作安全可靠,外形美观;
6.本机的核心气路采用了多种新的技术措施,包括采用高质量的测试气体和高灵敏检测传感器,全部采用... [详细介绍]
最新供应
招商代理
暂无信息
品牌展示